中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI-3050 #9078488 を販売中

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050走査型電子顕微鏡（SEM）は、ナノテクノロジーに特化した最先端の機器です。高性能で比較的高解像度のSEMであり、ナノスケール材料の高度なイメージングと解析を可能にする幅広い機能を備えています。SEIKO SMI-3050には、二次電子（SE）検出器と後方散乱電子（BSE）検出器の2種類の電子検出器があります。SE検出器は試料表面の詳細情報を提供し、BSE検出器はより3次元の分析を提供します。さらに、SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050には、表面電流の高精度マッピングを提供するEverhart-Thornley検出器が装備されています。SMI-3050は、わずか1ナノメートルの解像度まで物体をイメージングすることができます。優れた安定性と低ノイズを提供する新設計の冷間放射砲を使用して、壮大な画像処理を行います。さらに、サンプルのドリフトと振動が極めて低く、精度が向上します。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050は、結晶方向の描画マップ、表面電位と位相の解析、電荷分布のダイナミクスの研究など、表面トポグラフィとナノ構造を特徴付けるための高度な画像技術のユニークな組み合わせを提供します。SEIKO SMI-3050では、エネルギー分散X線分光法（EDX）、分光法、ビード解析などの高度な分析技術も提供しています。EDXは、標本の局所組成の元素マッピングを提供するために使用することができます。スペクトロメトリーでは、粒度や組成などの特徴を分析することができますが、ビード解析機能では粒子共振周波数を定量化することができます。SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050は、材料科学、半導体工学、ナノテクノロジーなど、多くの分野で強い存在感を持っています。金属、合金、セラミックス、プラスチックなどの科学材料と工学材料の両方を研究することに興味がある研究者に適したツールです。非常に微細な解像度のイメージングとさまざまな分析技術を提供することができるため、さまざまな研究アプリケーションにとって非常に貴重なツールとなります。