中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI 2050 #9383422 を販売中

ID: 9383422
Focused Ion Beam (FIB) system.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050は、マイクロスケールおよびナノスケール材料の表面構造を解析することができる走査型電子顕微鏡(SEM)です。サンプルの高解像度画像を表面とサブサーフェスの両方の詳細で提供するように設計されています。SEMには、高性能の電子検出器と優れた光学系が搭載されており、最も正確で信頼性の高い画像キャプチャを保証します。SEIKO SMI 2050は、ナノスケールのサンプルの研究に興味のあるユーザーに特定の利点を提供する多機能の器械です。明るいフィールドと暗いフィールドの両方で画像をキャプチャするための高解像度カメラを備えています。カメラは、最大4nmの解像度の画像を収集することができます。さらに、SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050には、統合された低エネルギーのインカラム型デジタルスキャン装置と、サーマルドリフトを低減するアクティブ冷却システムが搭載されています。SEIKO SMI-2050には、フィールドエミッションガン(FEG)排出電流制御、サンプルバイアス制御、イメージシフト制御など、さまざまなユーザーコントロール機能も搭載しています。SEMには、効率的な解析のための自動サンプルアライメントと測定機能が豊富に搭載されています。これらの機能には、自動粒子解析、形状認識、輪郭測定、オートフォーカスなどがあります。SMI 2050は、振動遮断ユニットも備えており、音響干渉を低減することができます。これにより、ユーザーは非常に高いレベルのイメージングと分析精度を達成することができます。SEMには、CellSoftや3D Viewerなどの多くのソフトウェアプログラムやグラフィカルツールが搭載されており、ユーザーに正確で正確な画像処理と分析結果を提供するように設計されています。品質を保証するため、SEMには緊急停止やCE認証など、さまざまな安全機能が搭載されています。CE認証は、ユーザーの高いレベルの安全性を保証し、SMI-2050が適用されるすべての安全要件を満たしていることを保証します。全体として、SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-2050は、最先端のナノスケール分析のための高解像度画像と信頼性の高いデータをユーザーに提供するように設計された高度な走査型電子顕微鏡です。SII NANOTECHNOLOGY SMI 2050は、高解像度カメラ、統合デジタルスキャンマシン、アクティブクーリングツール、ユーザーコントロール機能の範囲、自動サンプルアライメントおよび測定機能、振動分離資産、および多数の安全機能を備え、ナノスケール構造を研究するための強力なツールです。
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