中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI 2050 #293646429 を販売中

ID: 293646429
ヴィンテージ: 2004
Focused Ion Beam (FIB) system 2004 vintage.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050は、市場をリードする走査型電子顕微鏡(SEM)です。それは優れたビーム安定性と信頼性の付加的な利点と優れたイメージングと分析機能を提供するように設計されています。SEIKO SMI 2050は、試料表面の3D地形画像を原子レベルまで提供することができます。研究や品質保証業務など幅広い用途でご利用いただけます。SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050は、高度な画像解析ソフトウェアを搭載した汎用性と強力なシステムです。表面地形解析用の自動SPM(スキャニングプローブ顕微鏡)、試料組成決定用CPD(接触電位差)、元素解析用のEDS(エネルギー分散分光法)、ナノ電気測定用のSCH(スキャニングキャパシタンス顕微鏡)を搭載しています。さらに、SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-2050は、高解像度のデジタルカメラと高品質のサンプルステージを備えており、試料の再現性と測定の一貫性を確保しています。SMI 2050は高精度のイメージングおよび分析が可能です。SII NANOTECHNOLOGY SMI 2050は、3D-SIMS(同時に小さな角度と大きな角度の照明)、Zernikeフェーズコントラスト、明るいフィールドイメージングなどの高度なイメージング機能を使用して、ディテールと明瞭さの高い画像を得ることができます。また、堅牢性と高い機能性により、基礎研究から品質保証業務まで、さまざまな用途に使用されています。SEIKO SMI-2050の高品質な性能と機能により、材料科学、ナノエレクトロニクス、バイオテクノロジー、法医学など、さまざまな用途に最適です。高度な検出器と高性能な電子システムのおかげで、SMI-2050は高解像度、高コントラストの3D画像をキャプチャし、微細構造、粒子および表面の2D/3D画像を生成することができます。また、深度分解能により、半導体チップなどの複雑な微小電気要素や冶金要素の検査にも最適です。SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050はまた、その高度なソフトウェア機能の恩恵を受けています。SEMイメージングスイートには、表面画像を測定、定量化、分析する高度な画像解析ソフトウェアが含まれています。使いやすいNanoSIMSソフトウェアは、サンプル中の化学濃度、粒度、結晶方向などの複数の原子パラメータを関連付けるために使用されます。SEIKO SMI 2050は、ユーザーフレンドリーな操作や楽器の安全機能などの安全機能も備えています。そのセキュリティ機能には、ユーザーのアクセス制御と各ユーザーのシングルサインオン認証システムが含まれます。全体として、SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050は、幅広い用途に理想的な機能を備えた強力で汎用性の高い機器です。この高度な技術により、研究者や品質保証の専門家は、精度、信頼性、精度の強化されたレベルの恩恵を受けて、マイクロスケールとナノスケールでサンプルに関する情報を取得することができます。
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