中古 SEIKO SMI 3200 #9116789 を販売中
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ID: 9116789
FIB System
Advertised resolution: 4nm
Currently achieved resolution: <5nm
Load time: 2’33”
Sample size/stage movement: 8”
Stage tilt: -5o to 60o
Imaging options: secondary electron, secondary ion
Etching capabilities: Ga ion beam, rate dependent on area.
セイコーSMI 3200は、幅広いサンプルの高解像度デジタルイメージング用に設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。試料を500,000Xまで拡大することが可能で、最適な解像度とコントラストを提供する高性能な電子光学レンズを搭載しています。フィールド放射源を備えており、高い輝度と一貫した輝度レベルを提供します。さらに、アクティブな逆散乱電子(BSE)検出器により、対応する元素マップを用いた詳細なイメージングが可能です。その急速なサンプルステージには、スキャンと傾きの両方の動きのために設計されたハイブリッドが含まれています。これにより、最大4,000 mm2の領域を自動的に正確にスキャンし、サンプル表面を直接イメージングできます。低真空(LVA-SEM)動作は、非導電性サンプルのイメージングに理想的な環境を提供します。また、短いポンプ時間と高解像度のイメージングを特徴とする可変圧力装置が装備されています。SMI 3200は、高精度の3Dアライメントと精製システムを備えたX線 (EDS/WD)検出器を備えており、サンプリング領域の高解像度の観察と定量分析を提供します。また、この顕微鏡は、セイコーレッドフィルムとの結晶配向解析にも対応しています。さらに、統合された操作ユニットは、直感的なグラフィックインターフェイスで使いやすいです。この顕微鏡は、高解像度SEM画像をキャプチャすることもでき、データを一般的に使用されているフォーマットに変換して分析することもできます。さらに、高速データ転送機は、計器からホストコンピュータに画像や定量データを迅速に送信することで解析を容易にします。全体として、セイコーSMI 3200は、高性能SEMをお探しの方に最適です。高解像度の電子光学レンズとBSE検出器を備え、イメージングや元素マッピングにおいて比類のない精度を提供します。さらに、低真空操作、ハイブリッドサンプルステージ、EDS検出器、直感的な操作ツールにより、このSEMはデジタルイメージングと解析に最適です。
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