中古 SEIKO SMI 3200 #9095358 を販売中

SEIKO SMI 3200
製造業者
SEIKO
モデル
SMI 3200
ID: 9095358
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM).
セイコーSMI 3200は、様々な用途において高品質なイメージングを提供するために設計された高度な走査型電子顕微鏡(SEM)です。SMIによって生成されたこのモデルは、3nmから100mmまでの幅広い解像度を提供することができます。1nmから1,000 μ mの範囲の被写界深度も誇ります。SMI 3200はデジタル信号処理システムと自動最適化機能を備えています。高度なレイトレーシングアルゴリズムを含めると、ノイズレベルが低い非常にシャープな画像をユーザーに提供します。SEIKO SMI 3200は-25°Cから+40°Cに及ぶ温度を含むいろいろな環境条件の下で作動できます。また、静電レンズシステムを備えており、真空チャンバーに収容され、柔軟なスキャン領域を備えています。SMI 3200電磁ビーム検出器は、毎秒0。1から10番目の光子まで、幅広い感度を提供します。これは、吸収係数が低いサンプルを分析しても、画質が損なわれないようにするのに役立ちます。セイコーSMI 3200は、顕微鏡を制御するためのさまざまな自動プロセスも提供しています。これには、オートフォーカス、自動ビーム電流、自動スポットサイズ、自動位置決めなどの自動最適化機能が含まれます。最後に、SMI 3200にはさまざまなハードウェアとソフトウェアオプションがあります。イメージングシステム、検出器、SEMベースなど、さまざまなSEMと互換性のある豊富なイメージングツールが付属しています。これらのツールは、最も最適なイメージング体験をユーザーに提供するのに役立ちます。そのハードウェアに加えて、SEIKO SMI 3200はまた、データ操作と分析のためのソフトウェアツールの広範な範囲を提供しています。これには、パターン認識やデータセグメンテーション、自動コントラスト測定、3Dレンダリング、言語処理などのツールが含まれます。全体として、SMI 3200はSEMの優れた選択肢であり、幅広いイメージングおよび制御機能をユーザーに提供します。広範な解像度から高度なレイトレーシングアルゴリズム、堅牢なソフトウェアツールまで、SEIKO SMI 3200は科学研究および産業アプリケーション向けの優れたツールです。
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