中古 SEIKO SEIKI SMI3050SE #9202859 を販売中

ID: 9202859
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 2006
FIB Scanning Electron Microscope (SEM), 8" Upto 2" sample sizes Ga+ focused ion beam column for nanoscale fabrication Field emission SEM for observation during FIB processing Image resolution: 4 nm Maximum current density: 30 A/cm² or greater 2006 vintage.
セイコーセイキSMI3050SE走査型電子顕微鏡は、材料科学、金属加工、故障解析など、さまざまな用途に使用できる高性能イメージングツールです。このユニットには、歪みのない鮮明で詳細な画像を提供することができる30kVの六角形フィールド放射銃とデュアルガンコントロールが装備されています。セイコーセイキSMI 3050 SEはまた、方向解析、コントラスト強化、被写界深度イメージングなどの高度な3Dイメージング機能を可能にする背面散乱電子検出器を提供しています。解像度の面では、SMI3050SEは最大15nmの印象的な解像度を提供し、ユニットはまた、正確な調整と測定を保証する自動Z軸が装備されています。さらに、SMI 3050 SEは、標準的なフルレンジの斜めのビューポートと調整可能なサイドウォールステージのおかげで、UHV環境で使用することができます。この顕微鏡は、デジタル画像処理やコンピュータ支援測定などの高度なイメージング技術、直感的なユーザーインターフェイスとソフトウェアパッケージも提供しています。SEIKO SEIKI SMI3050SEは容易に適応可能で、ユーザーのニーズに合わせてカスタマイズすることができます。このユニットの汎用性の高い設計は、幅広いサンプルホルダーや解析アクセサリーに対応することができ、医療、材料、生物、半導体など、さまざまな分野で実験を行うことができます。SEIKO SEIKI SMI 3050 SEは、その高度な機能により、多くの科学研究プロジェクトのための強力で信頼性の高いツールです。SMI3050SEは強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡で、優れたイメージング結果を提供します。高度な機能と解像度により、このユニットはさまざまな科学アプリケーションに最適です。UHV対応の設計により、信頼性と一貫した結果が得られます。SMI 3050 SEは、デュアルガン制御、3Dイメージング機能、デジタル画像処理、およびコンピュータ支援測定を備えており、医療、材料、生物学、および半導体分野の研究プロジェクトに最適です。
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