中古 RAITH 50 #293636314 を販売中

RAITH 50 Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノテクノロジーと材料科学のための汎用性の高い高性能イメージングプラットフォームです。最先端のエンジニアリングと設計により、高倍率、優れた画像解像度、詳細なサンプル特性評価が可能です。50のコア動作パラメータには、3 nmの横方向および垂直分解能、30 nmの被写界深度、および50万回の最大倍率が含まれます。優れたイメージングダイナミックレンジと広い視野を備えています。また、干渉を低減し、全体的な性能を向上させる高度な電子カラムを備えています。RAITH 50は、Secondary Electron Imaging、またはSEIの原理に基づいて動作します。SEIでは、サンプルに高エネルギー電子のビームが照射され、サンプルから脱出するために電子を刺激します。これらの二次電子は検出器によって検出され、画像を作成するために使用されます。50の高性能コラムおよび検出器は、詳細なサンプル測定と検出感度の向上を容易にします。RAITH 50には、高性能なX線マイクロアナリシス装置が搭載されています。このシステムは、詳細な特性評価、要素マッピング、およびサンプルの定量化を可能にします。X線源を用いて試料内の電子を励起し、その結果、特徴的なX線写真のピークが得られます。これらのピークはサンプルの元素シグネチャを提供し、詳細な特性評価を可能にします。50はまた広い区域にスキャンを可能にする自動化された段階の単位が装備されています。ステージにより、オペレータはサンプル表面のどこにでも画像を取得でき、サンプルの詳細な概要が得られます。RAITH 50は高度なイメージングマシンであり、詳細な特性と測定を提供することができます。高性能な電子カラム、X線マイクロアナリシス工具、自動化されたステージを備えた50は、ナノテクノロジーや材料科学に幅広い機能を提供します。