中古 PHILIPS / FEI XL 835 #293639215 を販売中

PHILIPS/FEI XL 835は、幅広い機能を備えた高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。この装置は、イメージングと解析の柔軟性と精度を提供するように設計されています。FEI XL 835は、多数の高度な技術機能を備えています。これは、優れた画質を提供するために、ミッションアライメントされたショットキーエミッタを備えたライトフレーム電子カラムを備えています。試料チャンバーには自動試料搬送システムが装備されており、素早く簡単に試料を交換できます。器械のコラムは20から30kVの間のエネルギー範囲があります。サンプル分析には前世代の検出器を使用できます。背面散乱電子（BSE）および二次電子（SE）検出器は、試料の地形と元素組成の分析を可能にします。PHILIPS XL 835には、高解像度のEverhart-Thornley SE検出器も搭載しており、より高い分析精度を実現しています。XL 835は、10〜8 mbarの真空レベルで動作し、サンプルの明確なビューを確保します。直感的な4Dジョイスティックにより、SEMは自動測定と手動制御を実行します。モジュール設計により、コンポーネントのアップグレードやソフトウェアの追加が容易になります。PHILIPS/FEI XL 835の顕著なイメージング機能により、微細構造の特性評価、研究、故障解析などの用途に最適です。試料のドリフトを最小限に抑え、分解能に優れた分解能を提供します。電子カラムはまた、明るいフィールド、暗いフィールド、偏光など、さまざまな動作モードでのイメージングを可能にします。FEI XL 835は、エネルギー分散分光法（EDS）、 X線マッピング、画像簡略化など、幅広い強力な解析技術を提供します。このソフトウェアは、3D画像、ムービー作成、測定などの高度な機能を実行するように設計されています。統合されたリアルタイムシネマティックフィルタにより、超高速イメージングが可能です。全体として、PHILIPS XL 835は信頼性が高く効率的な実験装置であり、イメージングと解析において精度と精度を提供します。この走査型電子顕微鏡は、詳細な元素および構造解析を必要とする研究者や研究室に最適です。