中古 PHILIPS / FEI XL 830 #293754265 を販売中

ID: 293754265
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM).
PHILIPS/FEI XL 830は、究極の解像度と感度で絶妙なサンプルイメージングを提供するように設計された高度な走査型電子顕微鏡です。このデバイスは、あらゆる種類の小さなサンプルを正確かつ迅速に分析することができるため、科学分野の研究室で重宝されています。FEI XL 830の汎用性により、幅広い科学アプリケーションや研究分野での使用が可能です。この走査型電子顕微鏡は、ユーザーに強力で使いやすいデバイスを提供するために、幅広い技術の進歩を組み込んでいます。PHILIPS XL 830は、高エネルギー分解能で画像を取得することを可能にする、インカラム式エネルギーフィルターで構成されています。XL 830は、1ナノメートル以下の解像度を実現する超安定磁気レンズを採用し、卓越したサンプルイメージングを実現しています。この二重対物界放射砲(FEG)設計により、近接から10mmまで調整可能な視野を持つ様々なサンプルからの高解像度画像の生成が可能となり、ユーザーの柔軟性を提供します。PHILIPS/FEI XL 830は、さまざまなイメージングおよび解析オプションを提供します。FEI XL 830の低真空環境により、非結晶性サンプルを損傷のリスクなしに解析することができます。さらに、PHILIPS XL 830には環境チャンバーが含まれており、サンプル温度を正確に制御できます。この機能は、温度依存プロセスの研究、またはその動作温度でのサンプルの評価に特に役立ちます。XL 830のX線マイクロアナリシス機能により、研究中のサンプルの元素組成を同定することができます。オンボード分光計を使用すると、ユーザーは任意のkVエネルギー範囲を選択でき、堆積電荷のすべてが分光計によって収集され、高分解能スペクトルが生成されます。PHILIPS/FEI XL 830は、イメージング機能に加えて、ユーザーに最高レベルの分析と研究を提供するためのさまざまな自動化機能も提供しています。自動化された機能には、同様のサンプルの高速かつ再現可能なイメージングのための自動フォーカスとスティグメーション、および最大60ミクロンの視野用の自動スキャンマッチングが含まれます。FEI XL 830は、最高レベルの精度と結果を求める科学者にとって非常に強力なツールです。複数のイメージングおよび解析オプションと堅牢な構造により、PHILIPS XL 830はパフォーマンスとユーザビリティの究極の組み合わせを提供します。エンドユーザーはXL 830を使用して、さまざまなアプリケーションやサンプルの品質と信頼性の高いイメージングと分析を行うことができます。
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