中古 PHILIPS / FEI XL 820 #9243141 を販売中

PHILIPS/FEI XL 820 Scanning Electron Microscope （SEM）は、高解像度のイメージングとサンプル分析を提供するために使用される汎用性と強力なツールです。SEMの印象的な解像度、コントラスト、ディテール機能により、材料やライフサイエンスなどの幅広い科学アプリケーションや、産業や電子機器の分析に最適です。FEI XL 820 SEMのオープンデザインにより、さまざまなサンプルサイズ、形状、厚さを縦方向に最大295mm、高さ150mmまでイメージできます。最高解像度は横方向と深さの両方で約3nmで、ナノスケールで最小の特徴を検出して分析することができます。さらにPHILIPS XL 820は、絶縁・抵抗材料のハイコントラスト画像処理を可能にする「インレンズ」二次電子検出器を充電効果を持たない独自の設備を備えています。SEMは、低真空環境（空気、液体、ガスなど）でのイメージングおよび分析を可能にするin situ解析および可変圧力（VP）技術のための自動環境チャンバーを備えています。スクリーンタイプのサンプル破壊も可能で、特に故障解析に適しています。自動化されたアライメントシステムにより、複雑なジオメトリを使用して、長距離のプロファイルを直接測定できます。XL 820 SEMは、高度なデータ収集と画像処理ソフトウェアによって補完されています。このソフトウェアは、データを分析し、結果を生成するための非常に効率的な方法を提供します。これにより、ユーザーは3Dイメージモデルを作成したり、距離を測定したり、フィーチャーを校正したり、スペクトル分析を実行したりすることができます。要約すると、PHILIPS/FEI XL 820 SEMは、優れた解像度、コントラスト、ディテール機能を提供する強力なツールです。材料・ライフサイエンスから産業・電子まで、幅広い顕微鏡分析アプリケーションに最適なソリューションです。ユニークな機能と高度なソフトウェアは、研究開発環境にとって非常に貴重な資産です。