中古 PHILIPS / FEI XL 40 #9252220 を販売中

PHILIPS/FEI XL 40スキャン電子顕微鏡（SEM）は、優れたイメージング品質と優れた解像度をユーザーに提供する汎用性の高い機器です。1ナノメートルまでの解像度を実現できるため、複雑な解析作業に最適です。FEI XL 40には、ほぼすべてのサンプルサイズに対応するさまざまなアクセサリーが装備されています。また、自動校正機能を備えており、任意の倍率で試験片を正確に測定することができます。PHILIPS XL-40は、2段ターボポンプ式圧力装置によって駆動され、超解像画像に不可欠な超高真空環境を提供します。システムには差動ポンプ段が装備されており、圧力は試験片エンクロージャ内で調整することができます。加速器の電圧は0。001〜30kVの範囲で、幅広いコントラストと被写界深度を実現します。電流は1 µAまで調整可能で、精密なイメージングが可能です。PHILIPS/FEI XL-40は、高さが最大36 cmの大きなチャンバーを備えており、異なるサイズのサンプルを研究することができます。また、デジタルイメージングユニットを誇っています。使いやすい制御ソフトウェアは、ユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えており、大きな柔軟性を可能にします。XL-40は日々の使用のために設計されており、繰り返し可能な実験のための信頼できる性能を提供します。PHILIPS XL 40は、イメージング、マッピング、ナノ電気特性評価、EDS （Energy Dispersive X-ray Spectrum）解析、一般的なサンプル分析など、さまざまなアプリケーションが可能です。また、2次元と3次元の画像を取得することができ、さらに詳細な分析を可能にします。また、有機試料の高解像度画像を生成することも可能です。最大300 A/cm2の明るさを提供するコールドフィールドエミッションガン（FEG）技術を搭載し、より良いコントラストと被写界画像の深さを可能にします。全体として、FEI XL-40 Scanning Electron Microscopeは、高解像度の画像、優れたコントラスト、使いやすさを必要とする研究者にとって理想的なツールです。その包括的な機能は、汎用性と信頼性の高いSEMを探している任意のラボに大きな資産になります。