中古 PHILIPS / FEI XL 40 #9250114 を販売中

PHILIPS/FEI XL 40は、高分解能イメージングおよび分析機能を提供するように設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、前例のないレベルの解像度を提供するインコラム直接検出器を備えています。FEI XL 40は、1。5ナノメートルまでの分解能で、さまざまな構造や材料をイメージングすることができます。これは、ナノスケールの構造や材料の研究のための貴重なツールになります。PHILIPS XL-40のインカラム検出器（EDX）は、サンプルの元素組成を調べるために使用される分光計です。電子が試料と相互作用すると、エネルギーが失われます。EDXはエネルギー損失を測定し、サンプルの元素マップを作成し、元素の組成と分布を明らかにします。これにより、形態学的特徴と化学的特徴の両方を単一の解析で研究することが可能になります。PHILIPS/FEI XL-40には高度なステージを装備し、0。5ナノメートルの位置精度を実現しています。このステージにはAutoAlignアライメントシステムも装備されており、サンプルが常に画像や分析用に正しく配置されていることを保証します。ステージは直径100mmまでのサンプルに対応できます。XL-40は様々な材料やサンプルの種類に最適です。可変圧力システムにより、液体や生物粒子などの低真空サンプルのイメージングが可能です。さらに、背面散乱電子検出器は、プラスチック、セラミックス、金属などのより厚いサンプルの分析に最適な高コントラスト画像を提供します。XL 40にはさまざまな高性能な分析ツールがあり、さまざまなアプリケーションに使用できます。これらには、3Dでサンプルを画像化して分析し、地形分析、組成分析、位相解析を行い、粒度と分布を測定する機能が含まれます。また、インテリジェントなサンプル処理を備えており、サンプルを常に正確に配置し、分析用に配置することができます。要するに、FEI XL-40は、比類のない解像度と分析機能を提供する強力な走査型電子顕微鏡です。インコラムEDX検出器、高精度ステージ、可変圧力システムにより、低真空サンプルのイメージングから地形、組成、位相解析まで、幅広い用途に最適です。高度な制御とインテリジェンスを提供し、ナノスケールのアプリケーションに最適です。