中古 PHILIPS / FEI XL 40 #293665913 を販売中

PHILIPS/FEI XL 40スキャン電子顕微鏡（SEM）は、精密工学および材料科学アプリケーション向けの信頼性の高い汎用性の高いツールです。70,000Xまでの倍率でサンプルの高解像度画像を生成できる強力な電子ビームを搭載しています。FEI XL 40は、2D材料などの薄くて壊れやすいサンプルのイメージングに最適で、金属や半導体を含むさまざまな材料の表面を効果的に分析するために使用できます。PHILIPS XL-40は、高品質の画像を作成するために不可欠なクリーンで高真空の環境を維持するEcoPlane超高真空（UHV）チャンバーを搭載しています。このチャンバーは、故障（MTBF）間に1万時間の平均時間を持ち、長期にわたり信頼性と精度を確保します。さらに、画像解像度は積極的に測定され、自動的に補正され、時間の経過とともに一貫して正確な結果が得られます。FEI XL-40はまた、より大きく、より重いサンプルに対応するための電動ステージを備えており、正確で簡単な操作のためにジョイスティックで制御することができます。標本の高速かつ正確な測定を可能にするために、XL-40には特化した特徴分析およびデータ収集ソフトウェアのスイートが装備されています。デジタルイメージキャプチャにより、さらなる分析のために画像を保存することができ、PHILIPS XL 40では画像のインポートとエクスポートが簡単に行えます。さらに、ソフトウェアは、自動サンプル制御、自動画像アライメント、および試験片の表面上のパターンの組成を明らかにする要素マップを作成するために使用することができます。XL 40は、二次および後方散乱電子、陰極発光、X線マップ、元素マップなど、さまざまな画像を生成することができます。この汎用性により、半導体デバイスの検査やイメージングからセラミックおよび金属表面の研究まで、幅広い用途で使用できます。PHILIPS/FEI XL-40によって可能にされたサンプルの細心の処理と分析は、さまざまな材料や微細構造への貴重な洞察の扉を開くことができます。