中古 PHILIPS / FEI XL 40 #293650347 を販売中

PHILIPS/FEI XL 40は、さまざまな材料の詳細な分析に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、生物物質などの壊れやすいサンプルのイメージングに重要なチャンバー内の圧力を制御できる可変圧力モードを備えています。電界放出源と特殊なEverhart-Thornleyガス検出器を組み合わせることで、顕微鏡は様々な条件下で動作し、焦点深度が大きいため非常に高解像度の画像を提供することができます。この顕微鏡の特長は、3次元モードで動作することで、コンポーネントやナノ構造の非常に詳細な3D再構築を構築し、操作することができます。この顕微鏡には、高出力EDS （Energy Dispersive X-ray Spectrometry）検出器が内蔵されており、サンプルの要素分析を同時に行うことができます。EDS検出器は、コンポーネントの完全なマッピングを得るために便利な高速自動サンプルローディングシステムとさらに統合されています。これらの特徴の組み合わせは、サンプルの組成をよく理解することを可能にする多面的な分析能力をもたらします。FEI XL 40はまた、画像処理のためのより良いコントラストと解像度を可能にするインレンズ検出器を備えています。インレンズ検出器は、画像のコントラストを高め、解像度を向上させるために、電子ビームの電荷を変調する独自の低kVプラットフォームを使用しています。インレンズオートスキャンシステムと組み合わされたこの顕微鏡は、幅広い材料で最高レベルのディテールをキャプチャするのに最適です。容易にアップグレード可能なオープンなプラットフォーム上に構築されたPHILIPS XL-40は、最も要求の厳しい要件に対応するように設計されています。人間工学に基づいて設計されており、最小限のトレーニングで素早く簡単に組み立てて操作できます。モニタリングに関しては、PHILIPS/FEI XL-40は直感的なユーザーインターフェイスを備えており、シンプルで機能豊富な操作性を実現しています。要約すると、FEI XL-40は強力で信頼性の高い走査型電子顕微鏡であり、様々な材料の詳細な分析のために特別に設計されています。革新的な技術により、非常に高解像度のイメージングと同時の要素解析が可能です。また、制御性が高く直感的に操作できるため、さまざまなユーザーに最適です。