中古 PHILIPS / FEI XL 30S #293674765 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30Sは、高性能、高性能、コスト効率を兼ね備えた汎用性の高い走査型電子顕微鏡（SEM）です。その幅広い機能とユーザーフレンドリーなデザインは、業界、学術、研究で使用するための人気のある選択肢となります。この高度なSEM装置は、最適化されたイメージングと結晶方向の経験のために構築されています。これは、最大18 kVのビーム倍率と10 nmの分解能機能を提供する4軸光学システムで構成されています。このユニットは、高速かつ信頼性の高い試料材料のローディングのための高圧自動カーボンサンプル積載機を備えています。FEI XL30Sの他の印象的な機能には、サンプルステージ用の自動アライメントツール、内蔵のBrucker/Sargentサンプルチェンジャー、および低kV標本の分析用の低真空サンプルホルダーがあります。試料サンプルホルダーは大きな作業領域を持ち、スループットを最大化するように設計されています。PHILIPS XL 30 Sは、低kV環境で動作するように設計されており、10kVで最大12nmの高解像度を実現しています。これは、高強度のデジタル画像処理アルゴリズムと高いダイナミックレンジコントラストを使用して実現されます。また、低剛性構造で高性能、低振動の電動ステージを備えています。高度なFEI XL 30Sアセットには、画像分析とレポート作成のエクスペリエンスを向上させるためのE-Zデータ収集ソフトウェアとE-Z分析ソフトウェアが装備されています。E-Zデータ収集スイートには、画像処理、微細構造解析、テクスチャ測定、元素組成決定のためのソフトウェアが含まれています。このモデルは、幅広い用途向けに設計されています。その汎用性と使いやすさは、産業材料、半導体基板、コーティング、冶金など、さまざまな市場でのイメージングおよび結晶オリエンテーション研究に適しています。全体として、XL30Sは高度な高性能SEM機能を求める研究室や研究施設に最適です。高速スループットを備えた高解像度イメージングにより、試験片の迅速な分析とより詳細な分析に最適です。