中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9408620 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、広い視野、高速スキャン速度、高解像度イメージング機能を備えた走査型電子顕微鏡（SEM）です。FEI XL 30は、研究および産業用に設計されています。その高度な電子光学技術と新しいイメージング技術により、大幅に改善された生データ品質を生成することができます。顕微鏡の広い視野は、標準的なSEMでは利用できない、これまでにないレベルのディテールを提供します。例えば、これまで見たことのないオブジェクトの断面積を、手作業による断面化に比べてわずかなコストで簡単に作成できます。また、そのクラスの他のSEMよりも高速なスキャンが可能です。PHILIPS XL30のイメージング機能は、最先端の電子光学系によって強化されています。変更されたゲルマニウムウィーンフィルターは、低ビームエネルギーでも優れた画像解像度を保証します。これにより、印象的な被写界深度と優れた焦点深度が得られます。また、特許取得済みの二次電子サプレッサ（SES）によって真空安定化の程度が提供され、使用中に新しい真空条件に即座に調整することができます。さらに、XL 30は使いやすいように設計されています。ユーザーインターフェイスには、新しいユーザーに役立つヒントやヒント、および自動画像処理機能が含まれています。電界マッピング、自動エッジ検出、表面トポグラフィ測定も提供し、サンプル分析を強化します。要約すると、PHILIPS/FEI XL30は、画像解像度、速度、視野で比類のないパフォーマンスを提供する強力で汎用性の高いSEMです。その先進的な光学、直感的なユーザーインターフェイス、自動化された機能により、研究および産業用アプリケーションに最適なツールになります。