中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9398344 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、精密なイメージングおよび材料分析用に設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。高い精度とスピードで挑戦的な作業に対応できるように設計されています。このユニットには、高度な電子銃と、幅広い用途で優れた性能と解像度を提供する調整可能なレンズ装置が装備されています。FEI XL 30は、大きなイメージング領域で電子を正確に焦点を合わせて検出するように設計されています。低電力から高出力までの複数の電子源を切り替えることができるため、高品質な画像処理能力がさらに向上します。メインレンズユニットは、高解像度のセカンダリレンズマシンでサポートされており、小さな機能が含まれています。このユニットには、1マイクロメートル以下の機能を測定するためのハイエンド検出器が含まれています。高性能な蛍光検出器と二次電子検出器の両方で、サブミクロン範囲からマクロレベルまでの材料の詳細な画像を提供できます。さらに、SEM-EDX、 STEM-EDX、 EDS解析には、さまざまな検出器や分光ツールを使用できます。PHILIPS XL30には、サンプルの一貫した迅速な移動を保証するために、精密な自動試料ステージが装備されています。ステージは簡単に調整できるように設計されており、長時間のデータ収集が可能です。ステージはXY駆動で傾斜しているため、様々な試料の向きを容易に実現できます。サンプルの倍率は、自動的に調整可能な低いソースとサンプルのクリアランスを調整することによって調整することもできます。PHILIPS XL 30は、ユーザーがさまざまな材料や構造を研究できるように、いくつかの操作モードをサポートしています。その中には、二次電子イメージング（SEI）、後方散乱電子イメージング（BEI）、電子後方散乱回折（EBSD）、カソドルミネッセンス（CL）などがあります。EDSの追加機能により、サブミクロンレベルでの組成解析とマッピングが可能です。要約すると、PHILIPS/FEI XL30は、正確なイメージング、材料分析、組成マッピングを提供するように設計された汎用性と強力なSEMです。このユニットには、高度な電子源と検出器、複数の分析ツール、自動試料ステージが装備されており、より簡単で生産性の高い結果を保証します。