中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9396739 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30走査型電子顕微鏡（SEM）は、材料やサンプルのイメージングや解析に使用される電界放射SEMです。FEI XL 30は、3-5ナノメートルの解像度でサンプルの画像を得ることができ、基礎研究、半導体、ライフサイエンス用途に最適なツールです。PHILIPS XL30は、加速電圧の広い範囲にわたって電子ビームのコヒーレンス、明るさと安定性を増加させる熱源とは対照的に、コールドフィールド放出電子源を備えています。この高いソース輝度は、低輝度信号を検出することにより、機器の解像度を向上させるのに役立ちます。PHILIPS XL 30には、これまで手に入らなかった材料分析データを取得できる高性能バックスキャッター検出システムが搭載されています。このシステムにより、従来の画像と収差補正画像の両方が可能になります。また、地形と表面構造の同時イメージングを可能にする2つのライブ二次電子検出器も含まれています。さらに、XL 30には高度な画像処理と解析機能が含まれています。自動化された画像最適化機能は最適な画質を達成するのに役立ちますが、自動中心ステージは複数のZ軸ステージやマニピュレータとインターフェースしてさまざまな動作を提供できます。サンプルハンドリングの面では、PHILIPS/FEI XL30には幅広いサンプルホルダーとステージが装備されています。これらには、高真空サンプルマニピュレータから低温イメージング用のクライオホルダーまでが含まれます。さらに、FEI XL30は、自動環境制御を利用して、さまざまな環境条件を提供します。最後に、XL30は、強化されたチャンバー放射シールド、機械的振動分離、自動ステージ衝突回避システムなど、さまざまな安全機能を提供します。全体として、PHILIPS/FEI XL 30は最先端の機能と性能を備えた電子顕微鏡の理想的なプラットフォームです。高度なイメージング機能、サンプルステージ、安全機能を組み合わせることで、FEI XL 30は発見と研究に理想的な機器となります。