中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9276335 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、材料研究とライフサイエンス応用の両方に必要なイメージングと分析機能を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。SEMは、焦点電子ビームを使用して小さな構造の画像を生成し、材料表面を最大0。8ナノメートルの解像度で拡大表示することができます。高レベルの電子光学補正技術により顕微鏡のイメージング能力が大幅に向上し、ナノスケールのイメージングや解析に最適なツールとなっています。FEI XL 30は、200-30KVで作動する電子源を特徴とし、500-300KVオプションで、最大サンプル高さ5 cm、最小サンプル高さ5 nmを可能にします。この高解像度で長時間作動距離により、レンズを変更することなく、大きな不規則な形状の物体を観察することができます。この顕微鏡には、レンズ内の二次電子検出器と背面散乱電子検出器があり、密度の異なる材料間に高いコントラストを与える。PHILIPS XL30には、さまざまな検出器や検出器が装備されており、その中には、元素分析用のエネルギー分散分光法（EDS）、表面分析用の波長分散分光法（WDS）、および背面分散型電子検出器（Backspattered Electroscopy）などがあります。結晶学的イメージングには、高分解能直接電子検出器（DED）も使用できます。この顕微鏡は、二次電子イメージング（SEI）、後方散乱イメージング（BSI）、および差動干渉コントラストイメージング（DIC）にも使用できます。PHILIPS/FEI XL30の可視化機能は、一連のデータ収集、イメージング、解析ソフトウェアによってさらに強化されています。このソフトウェアを使用すると、画像を取得し、定量的な測定を行い、他のSEMとの公開または比較のためにデータに簡単にアクセスすることができます。XL30は、ナノテクノロジー、材料科学、地質学、環境科学、生命科学、法医学などのさまざまな研究に理想的なSEMです。その高い感度と解像度は、材料を検査し、より低い倍率で目に見えないプロセスに使用することができるユニークなツールになります。また、業界や教育現場での品質管理にも最適です。