中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9257598 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30スキャン電子顕微鏡は、研究者が原子レベルおよびナノスケールレベルの材料の構造を、これまでにない精度と詳細で研究することを可能にする高度な実験装置です。顕微鏡の主な特徴は、電界放出電子源、高分解能イメージング機能、自動サンプル処理、ステージ位置決め、様々な材料で幅広い実験を行うことができます。電界放出電子源は、サンプルの表面をスキャンすることができる集中電子ビームを生成します。これにより、1アングストローム（0。1ナノメートル）未満の解像度でサンプル材料の構造の画像を作成することができます。また、エネルギー分散X線分析（EDX）やエネルギー濾過イメージング（EFI）などの実験も可能です。顕微鏡の自動サンプルハンドリングとステージ位置決めにより、サンプルの効率的かつエラーのない位置決めが可能になり、ユーザーは正確に機能を検索することができます。FEI XL 30は、高解像度イメージングに加えて、材料に関する幅広い実験を行うことができます。電子ビーム誘導電流（EBIC）や電子逆散乱解析（EBSA）などの実験を行い、材料の電気的および光学的特性を原子レベルで調べることができます。この顕微鏡は、材料の特性をリアルタイムで測定するために使用できるイオンや電子ビーム混合検出器などの外部検出器を組み込むオプションも提供します。PHILIPS XL30走査型電子顕微鏡は、生物学的および無機材料を研究する際に比類のない精度と詳細をユーザーに提供します。高解像度イメージング機能、自動サンプル処理機能、幅広い実験を行うことができるため、ナノスケールおよび原子レベルの材料特性を研究するあらゆる実験室にとって強力な装置となります。