中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9243798 を販売中

FEI XL 30scanning電子顕微鏡（SEM）は、材料の高性能イメージングと分析のために設計された、高出力、広い視野走査電子顕微鏡です。SEMは、4Xと30Xの倍率範囲を持つ広い試料チャンバーを備えており、作動距離が延長されています。これにより、x-y-z方向の256mmまでの試験片を正確に検査することができます。また、ショットキーフィールドエミッションガン（FEG）電子源にエネルギーフィルターを内蔵しています。これにより、色収差を低減した明るいハイコントラスト画像が可能になります。FEG電子銃は長い耐用年数を有し、時間の経過とともに安定した性能を確保します。また、PHILIPS/FEI XL 30にはデジタル信号プロセッサ（DSP）を搭載しており、高度なイメージングアプリケーションを実現しています。このSEMの高度な詳細化機能により、標準標本で0。04nm以下の特徴を正確にイメージングできます。自動チルトおよびフォーカス観察機能により、優れた表面形態イメージングと断面解析が可能です。自動化された無色補正と組み合わせたハイエンド偏光対物レンズを組み込むことで、高解像度イメージングがさらに強化されます。FEI XL 30の高度な分析測定機能は、正確な低電圧分光法、0。1％から100％までの完全な元素識別、および原子レベルの化学組成の高度な定性的および定量的分析を特長としています。EDXおよびWDXからEBSD、 Backscatter、 Brightfieldまで幅広いディテクタを搭載しています。SEMシステム全体は、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを介して動作し、簡単な操作と実験のパラメーター化を可能にします。さらに、内蔵のオートメーションにより、プロセスの部分的または完全な自動化により、一貫した再現性のある操作が保証されます。PHILIPS XL30は、ハイエンドイメージング、分析、研究に最適な高度な走査型電子顕微鏡です。ナノメートルレベルで正確なイメージングを可能にするとともに、高度な自動化された機能により、再現可能な操作と一貫した結果が得られます。