中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9236587 を販売中

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ID: 9236587
Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 3.1 Source: Tungsten hair pin type Vacuum system: Diffusion pump type Detector: SE and BSE Detector Auto stage option Missing parts: Diffusion pump system TMP and vacuum interface PCB SE-Detector unit Rotary pump PC System.
PHILIPS/FEI XL 30は、株式会社FEIが製造した走査型電子顕微鏡(SEM)です。このSEMモデルは、幅広いサンプル、サイズ、材料の動作に最適化された二次電子顕微鏡です。試料に焦点を当てた電子ビームを使用して、物体の高解像度3D画像を生成することができます。FEI XL 30は、画像処理オブジェクトの精度と精度で知られています。これは、環境機能とデジタルイメージングおよび制御機器を統合した設計によるものです。このシステムは、顕微鏡の設定と画像のキャプチャの高度な制御を可能にします。PHILIPS XL30用のx-yステージは、どちらの方向でも最大175mmまで移動でき、最大速度は50mm/sです。また、サンプルが表示される環境を制御するための可変圧力チャンバーを備えており、2,000から6,000パスカルの間で調整することができます。パワーブースターは、10KVから30KVまでの加速電圧を提供し、幅広い動作条件を可能にします。このユニットには、ステージの自動移動を可能にする自動ステージコントローラも付属しています。これはユーザーによって調節することができ顕微鏡にサンプル表面を常に保つ自動サンプルバランス機械があります。顕微鏡の一次イメージングツールは二次電子検出器で構成されており、顕微鏡が生成する画像のコントラストが高くなります。アセットのその他の機能は、統合シンチレータと調整可能な圧力センサーで、ユーザーはサンプルチャンバーの圧力を監視することができます。FEI XL30には、受信した電子ビームをデジタル信号に変換し、画像をコンピュータモニターに表示できるようにするスキャンコンバータも装備されています。さらに、このモデルには、自動顕微鏡イメージング射出制御が付属しており、最大5秒の自己相関時間スケールでのイメージングが可能です。SEMのこのモデルは、教育および研究目的から産業目的まで、幅広い用途に最適です。環境制御機能、イメージング精度、感度、自動化されたオプションにより、さまざまな背景を持つユーザーにとって信頼できる選択肢となります。
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