中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9203026 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、サンプルの高解像度イメージングおよび解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。インレンズ二次電子（SE）検出器と電界放出（FE）源を備えています。インレンズ検出器は、顕微鏡に広い被写界深度の地形画像を取得し、視野全体にわたって優れた画像を生成する能力を与えます。キセノンガスを使用したフィールド放射源は、高輝度、低エネルギースプレッド、および正確な設定を提供します。インレンズとフィールドエミッションの組み合わせにより、FEI XL 30は研究目的のための優れたツールとなります。この顕微鏡には、10倍、30倍、60倍の3種類の倍率で動作するユニークなインレンズ検出器が装備されています。この高感度検出器は、ノイズレベルの特性が低く、正確なSEM画像取得が可能です。統合されたSE信号増幅器はまた顕微鏡が灰色の輪郭そして陰の両方のサンプルのSEイメージを発生させることを可能にします。FEI X-MaxSEM検出器には、3Dイメージングと解析を可能にする特許取得済みのX-Tiltテクノロジーが搭載されています。高感度検出器と組み合わせることで、3D画像処理に最適なPHILIPS XL30です。また、SE検出器が目的の後部焦点面に配置されているため、スキャン速度が速くなり、デッドタイムが短縮されます。PHILIPS XL 30は、エネルギー分散X線分光法（EDS）、電子後方散乱回折法（EBSD）、カソドルミネッセンス（CL）、電子エネルギー損失分光法（EELS）など、様々な分析アプリケーションを提供しています。また、明るいフィールド、暗いフィールド、偏光コントラストなどの高度な画像処理機能も提供します。これは、使いやすいユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスによって促進され、ユーザーが目的の画像やデータを迅速かつ正確に取得することができます。XL 30は、信頼性が高く、高速で正確な高品質のSEM Wラボ機器を必要とする研究者やエンジニアに最適です。優れたパフォーマンス、ユーザーフレンドリーな操作、および幅広い高度な分析機能の完璧な組み合わせを提供します。これは、ほぼすべてのサンプル分析やイメージングアプリケーションのための優れた結果を提供します。