中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9193748 を販売中

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ID: 9193748
FEG Environmental scanning electron microscope (FEG-ESEM) Tungsten Detectors: CL BSE Plus.
PHILIPS/FEI XL 30は、究極のイメージングと分析のために設計された走査型電子顕微鏡(SEM)です。それはその種の最先端であり、高解像度、最高品質の画像処理結果を提供するように設計されています。顕微鏡の高度な設計は、汚染されたサンプルでも、さまざまな材料の正確で反復可能で信頼性の高い画像処理結果を幅広く提供します。FEI XL 30には、5kV X線源、250mmカラム、9。3cm光学視野、最大加速電圧30kVが装備されています。この組み合わせにより、空気圧、湿度、温度などの環境要因の影響を最小限に抑えながら、サンプルの正確な高解像度イメージングを可能にします。この高度な顕微鏡は、大きなサンプルでも最適なイメージング環境を保証する可変圧力機能を備えています。PHILIPS XL30には独自の可変圧力制御システム(VPCS)があり、サンプルへの環境影響を考慮しながら最適なイメージング環境を実現します。また、より詳細なサンプルのセクションに焦点を当てることができる特別なオートフォーカスシステムを備えています。ユニークな均一な照明はまた、すべての画像がきれいに見えることを確認するために提供されています、明確で一貫した。PHILIPS XL 30にはオートイメージキャプチャシステムが内蔵されており、自動化された継続的なイメージングが可能です。この機能を使用すると、同じサンプル素材からさまざまな画像を即座に生成できます。それはまた視野の特定の区域にサンプルを動かすことができる自動化されたサンプル段階制御が装備されています。FEI XL30の高度なイメージング機能とは別に、洗練されたソフトウェアで設計されています。これにより、さまざまなイメージングタスクのデータを簡単に管理および分析できます。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えているため、ユーザーはソフトウェア内のデータを簡単に処理、管理、アクセスできます。XL30は非常に効率的で、費用対効果が高く、信頼性が高いため、高度なイメージングと分析に最適です。短時間で最高品質の画像を必要とするユーザーや、最高レベルの機能と精度を必要とするユーザーに最適です。
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