中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9151973 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、高解像度イメージング、優れた画質、および正確な元素分析を提供するように設計された高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。FEI XL 30は超高解像度で高度なイメージング機能を備えており、材料特性評価や3Dイメージングに最適で、科学者やエンジニアにとって貴重なツールです。PHILIPS XL30はフィールドエミッションガン（FEG）電源を搭載しており、幅広いビーム電流で高速かつ効果的なイメージングが可能です。この電子顕微鏡は、150mmの大きな拡大視野を備えており、大きなサンプルを観察することができます。フィールドの深さが大きいため、大規模表面の解析や深い構造物のイメージングに最適なPHILIPS/FEI XL30です。Elemental解析のために、PHILIPS XL 30は、エネルギー分散X線分光法（EDS）や波長分散X線分光法（WDS）などの革新的な高度なイメージング機能を提供します。EDSを使用すると、サンプルの元素組成を正確に決定でき、WDSはサンプル表面の局所化学組成を測定します。これらの技術は、サンプルの構造と組成を最高レベルの詳細で正確に識別することを可能にします。XL 30は非破壊的な3Dイメージングを提供し、表面フィーチャーと内部構造を視覚化することができます。この顕微鏡は、効率的なデータ収集、分析、レポート作成のための自動ステージ装置と統合ソフトウェアを備えています。特殊なソフトウェアモジュールにより、生物学者はサンプルの3D再構築を回転させて操作することができ、内部構造に関する貴重な洞察を提供します。XL30はユーザーフレンドリーなシステムで、セットアップ、操作、メンテナンスが簡単です。直感的なユーザーインターフェイスにより、変更を迅速に行い、新しいイメージング設定をすばやく組み込むことができます。さらに、検出器、カメラ、アダプターなどの各種周辺機器にも対応しており、特殊な用途に合わせたカスタマイズが可能です。全体として、FEI XL30は、優れた画像解像度、正確な元素解析機能、および材料特性評価のための重要な3Dイメージングを提供する多目的スキャン電子顕微鏡です。高度な機能、信頼性、ユーザーフレンドリー性を兼ね備えているため、研究および産業用途向けの強力なツールです。