中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9096263 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、さまざまな材料特性評価およびイメージング用途に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。FEI XL 30は、高解像度イメージングと材料の詳細な分析を提供するように設計された高性能SEMです。サンプルの向きを正確に角度調整できるゴニオメーターと、真空および/または液体窒素レベルの迅速かつ簡単な切り替えのための自動切り替えユニットを備えています。SEMには、SEMとFocus Ion Beam （FIB）の両方のイメージング機能を提供するDualBeam Equipmentも搭載しています。このシステムにはEverhart-Thornley検出器が装備されており、より低い電圧からの高解像度のイメージングが可能であり、市販の他のSEMのドリフト補正が最も低くなっています。また、大型サンプルを簡単に解析するための自動イメージステッチ機能や、バルクサンプルの高解像度半定量画像を実現するデジタルX線機械も搭載しています。PHILIPS XL30はショットキーフィールドエミッションガン（FEG）とガタンオメガウルトラスキャンインターフェイスを使用しており、高い安定性と解像度を提供します。このツールは、ローカルエリアイメージングも可能で、サンプルの取り付けと積載を可能にする頑丈なベースを備えています。5軸のHVサンプルステージにはマイクロモータが搭載されており、より正確なサンプル操作が可能です。FEI XL30は、サンプル段階と同様に、可変スポットサイズ制御を備えており、精密な二次電子制御および等温サンプル温度制御を提供します。そのイメージング機能に加えて、XL30は高度なエネルギー分散X線分光法（EDS）による化学イメージングが可能です。また、高速かつ完全に自動化されたナビゲーション、低真空試料の調製とイメージング、およびフィルム蒸着などの高度な機能も備えています。優れたイメージング機能を備えたXL 30は、さまざまな材料解析アプリケーションにおいて信頼性が高く正確なオプションです。