中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9062875 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、電界放出（FE）および加速電圧（AV） SEMアプリケーションの両方に対応する強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡（SEM）です。包括的なアクセサリーを備えたハイエンドで高解像度のSEMです。FEI XL 30は、フィールド放出（FE）または加速電圧（AV）銃のいずれかを可能にするユニークな銃制御システムを備えています。電界放射銃は安定した電源を提供し、高い電子ビーム力に達することができ、正確な画像処理と分析を可能にします。加速電圧ガンは、FEガンよりも低い電子ビームエネルギーで高解像度の画像を得ることができます。PHILIPS XL30の最大倍率は100,000x,作動距離は最大500ミクロンです。高解像度の3軸サンプルステージを備えており、反転および前方観察が可能であり、サンプルの精密な操作が可能です。PHILIPS XL 30は、統合された超低真空（ULV）検出器を含むさまざまな検出器で高感度イメージングが可能であり、さまざまな検出器と互換性があります。また、検出チャンバーが大型化されているため、幅広いサンプルサイズのイメージングが可能です。FEI XL30の主な利点は、大容量データストレージシステムのおかげで、大規模なデータセットを取得、保存、分析することです。また、SEMイメージングと分析に合わせてカスタマイズされたさまざまなソフトウェアパッケージが含まれており、データ収集とストレージの自動化が可能です。さらに、XL30 SEMは、小さな特徴を持つサンプルや誘電率の低いサンプルなど、さまざまなサンプルのイメージングに最適です。それは特別なサンプル準備のための必要性なしで非導電性および困難なサンプルをイメージすることができます。全体として、PHILIPS/FEI XL30 SEMは、さまざまなサンプルのイメージングと分析に強力な機能を提供します。高度な機能を幅広く搭載し、精密かつ高精度なイメージングとデータ取得を可能にします。