中古 PHILIPS / FEI XL 30 #9020247 を販売中

ID: 9020247
SEM Tungsten emitter Windows NT operating system Fully integrated image storage ET type secondary electron detector Magnification range: 10x to 400,000x Accelerating voltage: 0.2 to 30 kV Drawer type door 5-axis stage (XYZRT) – XYR motorized with 50 mm travel in X and Y Manual tilt and Z adjustment (6) Available accessory ports.
PHILIPS/FEI XL 30は、優れたイメージング機能を提供する高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。高解像度、蛍光、単色の特徴があります。FEI XL 30は堅牢な画質を提供し、分析アプリケーションに最適化されています。高精度な画像処理を可能にする高度なオートフォーカスシステムを搭載し、さまざまな用途に対応した幅広い動作条件を備えています。PHILIPS XL30走査型電子顕微鏡は視野が広く、高速スキャンが可能です。最大15nmの解像度を実現し、10Xの視野を提供します。SEMは、最大4つの異なる要素を同時に観察することも可能です。このユニットのX線スペクトル解析機能により、エネルギー分散分光法(EDS)の迅速な解析が可能になります。EDSは、サンプルの元素組成に関する情報を提供します。PHILIPS/FEI XL30には可変圧力チャンバーがあり、有機サンプルや脆弱な分子や小さな標本などの真空安定性が限られているサンプルに役立ちます。可変チャンバはまた、サンプルの充電およびビーム誘発損傷を低減するのに役立ちます。さらに、XL30のステージには自動化されたステッチソフトウェアが装備されており、大きなサンプルの高倍率イメージングが可能です。機械はさまざまなタイプのサンプルで働く柔軟性を提供する低真空モードと高真空モードの両方で動作することができます。統合されたレーザー干渉計ツールは、広い視野でも安定したピント合わせを支援し、自動化されたステージでは自動イメージングを可能にします。さらに、自動化されたデータ収集機能により、高速で信頼性の高いイメージングが可能になります。XL 30の他の機能には、直感的なタイル張りのユーザーインターフェイス、包括的なサンプルデータベース、さまざまな画像解析をサポートする自動イメージングスイートなどがあります。例えば、自動画像後処理機能により、ユーザーはデータを迅速かつ正確にキャプチャできます。PHILIPS XL 30は、さまざまなサンプルタイプの精密なイメージング用に設計された高度な走査型電子顕微鏡です。その幅広い機能と機能は、優れたイメージングと分析ツールを必要とする研究者にとって理想的な選択肢です。
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