中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293831005 を販売中

ID: 293831005
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30は、産業、学術、政府研究に最適な高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。FEI XL 30は強力なイメージング機能を備えており、さまざまな材料や構造を詳細に表示できます。この顕微鏡には、高解像度の冷却後散検出器とEverhart-thornley検出器が装備されており、コントラストと解像度が向上しています。この顕微鏡は最新のFEG (Field Emission Gun)技術を採用しており、高倍率でも解像度、安定性、画質を向上させます。この技術は、最適化された二次電子と低真空技術の組み合わせでさらに強化されており、原子と磁気の両方の材料と構造の優れたイメージングを可能にします。PHILIPS XL30は、デジタルイメージプロセッシングやAutoMontageなどの幅広いデジタルイメージング機能も提供しています。FEI XL30はまた顕微鏡の寿命上の容易で、一貫した操作を可能にする高度のオートメーションシステムを特色にします。このオートメーションシステムは、標本の動き、圧力、傾き、スキャンサイズ、画像解像度などのさまざまなパラメータを検出および管理できます。PHILIPS XL 30は、ステージ制御の自動化とタスクシーケンスシステムの統合により、さまざまなタスクを迅速かつ効率的に実行することができます。XL30は、高度な機能と優れたイメージング機能を備えた、産業、学術、政府研究用に設計されています。優れたイメージング解像度、FEG技術、自動化されたシステムにより、PHILIPS/FEI XL30、詳細な解析や観測を行いたい人に最適です。低真空と二次電子技術を組み合わせた顕微鏡は、原子や磁気の物質や構造を見ることができ、観察されているサンプルの包括的かつ詳細な画像を提供します。
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