中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293825762 を販売中

ID: 293825762
Scanning Electron Microscope (SEM).
PHILIPS/FEI XL 30は、FEIグループが製造したXLシリーズのSEMの一部である走査型電子顕微鏡(SEM)です。優れた性能を提供し、幅広いイメージングおよび分析タスクに適しています。FEI XL 30には、電子源と中性子源の両方を使用した同時イメージングを可能にするダブルビーム装置があります。これにより、フルマルチモードイメージングが可能になり、検討中のサンプルをより包括的に見ることができます。この二重ビームシステムはまた、サンプルの化学的および元素分析を提供するEDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)のような測定を容易にします。PHILIPS Everhart-Thornley検出器を使用して高い空間分解能を提供し、電子銃制御ユニットの自動安定化により、時間とともに安定した画質を提供します。さらに、PHILIPS XL30は、高速スキャン時間と高速ビデオ録画を提供し、ダイナミックプロセスをキャプチャします。また、3Dイメージングと自動化された操作のためのソフトウェアも標準装備されています。PHILIPS XL 30は傾斜ステージも備えており、マルチチルトイメージングのために、正確なサンプルの位置決めとさまざまな方向への回転を可能にします。さらに、自動傾き補正機により、傾き調整の正確な自動化が可能です。PHILIPS/FEI XL30には幅広いアクセサリーがあり、オペレータは幅広いアプリケーションを実行できます。また、EBSD (Electron Backscatter Diffraction)に対応しており、結晶構造解析が可能です。FEI XL30にはギャップセンシング技術モジュールも標準装備されており、ナノメートルの厚さのサンプルを正確に測定することができます。要するに、XL30は強力で高性能な走査型電子顕微鏡です。高速イメージング、正確な測定、幅広い分析機能を提供することができ、さまざまなアプリケーションに最適です。高度な機能と幅広いアクセサリを備えたXL 30は、あらゆる研究や産業用イメージングや分析に最適なプラットフォームです。
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