中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293822403 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30スキャン電子顕微鏡は、高度な電子ビームを利用して詳細なイメージングと分析機能を生成する高性能な機器です。この顕微鏡は、単一の分離されたドメイン内の組成物を可視化して要素情報を収集することを可能にする、列内エネルギー分散X線分光計（EDS）を備えています。この顕微鏡はまた、試料表面分析用の高解像度逆散乱電子検出器を備えています。FEI XL 30は、さまざまなイメージング機能を提供します。この顕微鏡の統合されたSTEM（走査透過電子顕微鏡）機能により、コントラストを強化した高解像度イメージングが可能になります。このプラットフォームは、特別なアプリケーションでのコントラストを改善するために、マルチアングルSTEMと追加のスペクトルイメージング能力を提供します。内蔵された相関イメージング機能により、日立TM-3000電子顕微鏡（SEM-FIB）を用いて、構造を観察することができます。PHILIPS XL30は、幅広い分析技術を提供しています。その列内EDS装置は、要素分析を可能にし、マイクロスケールのレベルでサンプルのマッピングを提供します。また、そのインカラムのエネルギーフィルタリングシステムは、エネルギー分解能を向上させます。さらに、統合エネルギー損失分光計（EELS）は、個々の電子の結合エネルギーに関する正確な情報を記録し、複雑な分子を調べるのに役立ちます。FEI XL30は、同時イメージングモードが動作することによって駆動されます。Windowsベースのプラットフォームでは、イメージングステップ間の遅延を最小限に抑えて、非常に大きなデータセットを収集できます。これにより、すべてのイメージングモードを組み合わせることで、機器のスループットと分析能力を最大限に高めます。最後に、XL30は、精密な試料加工と微細加工のためのフォーカスイオンビーム（FIB）を含むトップオブザラインアクセサリーを完全に補完しています。また、大型および危険な標本を収集するための自動サンプルハンドリングユニットを備えており、機器の最大サンプル負荷を可能にします。PHILIPS/FEI XL30は、非常に高いスループットでイメージングおよび分析機能を提供します。EDSとEELSのインコラム機能により、組成解析の精度を大幅に向上させることができます。また、自動サンプルハンドリングマシンにより、柔軟性と拡張性が向上します。