中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293799305 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、光サンプルイメージングおよび分析用途向けに設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。特に、表面地形、サンプル組成、および紙表面構造のイメージングおよび分析に適しています。FEI XL 30は、最低作動距離30mm、最大作動距離200mmの可変圧力SEMです。ディジタル信号プロセッサ（DSP）を備えた3 keVで1。2nmの解像度と、8ピクセルあたりの最小電子を備えています。PHILIPS XL30 SEMは、FEI XLシリーズプラットフォームに基づいており、いくつかの重要な進歩を組み込んでいます。自動化されたインテリジェントステッチモードが強化されており、連続した反復可能な視野と電動の被写界調整を可能にします。XL 30には、デュアル2Dイメージング、3Dトモグラフィー再構築、スペクトルマッピング、および量的元素解析のためのエネルギー分散X線分析を含む高度なユーザーフレンドリーなソフトウェアも搭載されています。PHILIPS XL 30には、4メガピクセルの解像度を持つLMIS1 CCDカメラが搭載されており、高品質の画像を生成します。SEMは、使用しているアプリケーションに応じて、50nmから25mmまでの画像を生成することができます。サンプル環境モジュールは、SEMスタンドや自動サンプルステージなど、さまざまなカスタマイズ可能なキャリアを提供します。その他の特筆すべき特徴としては、マルチビームイメージング、自動画像アライメント、可変サンプル傾斜およびステージスキャン、フィールドの可変深度、および可変動作距離の4可変設計を備えたユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）があります。可変圧力SEMは、低圧で安定した電子ビームを提供し、電子ビームのバウンスを最小限に抑え、非電導試料のイメージングを向上させます。XL30 SEMは、高速で信頼性の高いデータを提供する強力でユーザーフレンドリーな機器です。その高度な機能により、サンプルマッピング、表面トポグラフィ、粒度/形状解析、サンプル組成と構造、深さプロファイリング、元素解析など、多数の分析およびイメージングアプリケーションに適しています。PHILIPS/FEI XL30 SEMは、ほとんどのラボアプリケーションに必要な柔軟性と性能を提供し、ユーザーに信頼できる研究を行うための汎用性と自信を提供します。