中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293771293 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、ナノ粒子から大型構造物まで、多種多様な材料の表面や界面の高分解能イメージングおよび解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、高スループットで画像処理が可能で、解像度2nmまでの詳細な画像が得られます。FEI XL 30は、最高品質のイメージングのための自動焦点装置とビームアライメントを内蔵しています。このSEMは、ユーザーの安全性を高めるための低加速電圧レンズと、高真空環境でのイメージング用の電子ビームを利用しています。コラム内の二次電子検出器は、優れたコントラストと画像ディテールを生成します。PHILIPS XL30は、高スループットのサンプル分析と処理機能を提供する自動マルチステージシステムを備えています。ビームとサンプルステージを操作することで、定量元素マッピングと形態学的特徴の両方を含む、さまざまなデータを単一の実行で収集することができます。また、エネルギー分散型X線分光計（EDX）を搭載しており、後方散乱した電子を用いて結晶構造のスペクトルを生成し、ピーク強度を測定するために専用の電子後方散乱回折（EBSD）検出器を備えています。PHILIPS/FEI XL30は、明るいフィールド、暗いフィールド、差動コントラストなど、さまざまなモードでイメージングすることができます。このSEMには、サンプル換気用のユニークな過圧ユニットが装備されており、サンプル汚染物質が高真空環境に侵入するのを防ぎます。また、画像を選択して操作するための高度なナビゲーションマシンも含まれています。サンプルは真空チャンバーに配置され、サンプル環境を操作して所望の画像条件を作成します。FEI XL30には、SEMの直接およびリモート制御のためのイメージキャプチャツールも組み込まれています。画像キャプチャ資産の記録とSEMから各イメージを処理し、結果の簡単なレビュー、アーカイブ、共有を可能にします。全体として、XL 30は、材料の詳細なイメージングと分析のための強力な走査型電子顕微鏡であり、ユーザーはサンプルについてより深い洞察を得ることができます。自動化されたマルチステージモデルや高度なナビゲーション機器などの統合機能を備えたこのSEMは、効率的で費用対効果の高い分析ソリューションを提供します。