中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293764144 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30スキャン電子顕微鏡（SEM）は、ナノメートルレベルまで様々な表面プロセスをイメージングするための先進的なツールです。洗浄されたサンプルの優れた解像度の画像、スパッタコーティングされたサンプル、またはさらにそれらを見えるように加工されたサンプルを提供します。このツールの重要な特徴は、産業および研究環境での使用のために設計されており、さまざまなイメージングアプリケーションに柔軟性を提供することです。この装置は、より高い被写界深度でサブナノメートル分解能を達成することができます。高性能な二次電子検出器を搭載し、表面の特徴を鮮明に捉えることができます。EDX機能により、オプションのEUROSTEM II検出器でフルスペクトルX線元素分析が可能です。この検出器を使用することで、元素組成、結晶性、格子パラメータなどの材料の正確な特性評価も可能になります。FEI XL 30の機能は、高速スキャンモードと高速デフレクタコイルによってさらに強化されています。これにより、8秒未満で10cm x 10cmの領域の高速スキャンが可能になります。さらに、複数の領域の同時イメージングが必要な場合、機器は長いスキャン時間を短縮することができます。PHILIPS XL30 SEMの最も強力な機能の1つは、大面積から短時間でデータを収集する機能です。洗練された機械装置は、精密なサンプルとステージの動きを可能にし、広い視野を持つ高速イメージングを可能にします。顕微鏡で収納できるサンプルサイズの範囲を広い作業距離でさらに広げます。XL30 SEMは、先端材料分析においても重要な役割を果たします。EDS検出器を搭載し、特徴の端にある要素解析を可能にし、優れた信号対ノイズ比で高精度な結果を提供します。さらに、この機器には、自動エッジ検出やフィーチャカウントなどの多くの自動ツールが付属しており、効率的で正確なデータ収集と分析を提供します。要約すると、PHILIPS XL 30 SEMは、ナノメートルレベルまでの表面プロセスをイメージングおよび分析するための高度なツールです。高解像度イメージング、元素解析、高速マッピング、自動化された機能など、幅広い機能により、研究および産業用アプリケーションに最適です。