中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293644231 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
PHILIPS/FEI XL 30は、走査型電子顕微鏡（SEM）用の電界放射銃を搭載した先進電子顕微鏡です。この顕微鏡は、最大30kVの加速電圧と、より詳細で正確な試験を可能にするために、常に改良された焦点と分解能で設計されています。SEM、 low-kV STEM、 high-kV STEMの3つのモードで動作します。FEI XL 30のX線マイクロアナリシス機能により、SEMベースの元素マッピングとコーティングが可能になります。ボタンを押すと、顕微鏡のオートフォーカスシステムは、ノイズを最小限に抑えて高速かつ正確なサンプル集中を行います。PHILIPS XL30には高温マニピュレーターが搭載されており、最大50 torrの圧力と2000°Cまでの温度でサンプルを配置することができます。マニピュレータは、サンプルのドリフトを低減し、サンプルをスキャンプローブに接触しにくくするのに役立ちます。さらに、不均一なサンプルのイメージング品質を大幅に向上させます。LENS （Lateral Electron Focusing System）などの各種検出器を取り付けることで、低解像度と高解像度の画像を組み合わせた3D実験が可能です。さらに、モルフォロジーおよび位相イメージング用の試料ホルダー、およびサンプルステージを備えており、真空中、高真空、超高真空などの様々な照射モードでの分光およびイメージングを保証します。FEI XL30は、生殖不能で絶縁された環境を提供し、信号の明瞭さと画像精度を最大化します。また、高度な光学システムにより、感度と信号対ノイズ比が向上しています。さらに、顕微鏡は直感的な操作を容易にする人間工学的なユーザーインターフェイスと設計されています。最大30kVの加速電圧、高温マニピュレータ、大型チャンバーなどの高度な機能を組み合わせることで、XL30は幅広い顕微鏡タスクを実行するための理想的なツールとなります。使いやすいユーザーインターフェイス、信頼性の高いイメージング品質、および高解像度は、その利点のほんの一部です。さらに、様々な検出器やサンプルホルダーにより、高解像度のイメージング、分光、3D解析が可能になります。
まだレビューはありません