中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293643959 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、幅広い材料や構造のイメージングおよび解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。この汎用性の高い顕微鏡は、低倍率と高倍率の両方のイメージングに適しており、in situおよび環境スキャン電子顕微鏡用途の両方で使用できます。FEI XL 30は最高の性能および安定性のための分野放出銃（FEG）の技術を含んでいます。このFEGソースにより、電子ビーム電流を2pAまで下げることができ、低電圧スキャン電子モードでのイメージングが可能になります。高電流のFEGソースにより、スキャン速度が向上し、画像解像度が高くなります。PHILIPS XL30は、最大450mmまでの試料に対応できる大容量のチャンバー容量と、幅広いサンプルの向きを備えています。これにより、顕微鏡を使用して、最も困難なサンプルを分析することができます。さらに、XL30には独自のAutoload III試料ローディングシステムと、対照性の高い試料の最適なイメージング用のシンチレータ検出器、非導電材料のイメージング用の後方散乱検出器など、さまざまなイメージング検出器が含まれています。XL 30は環境SEM （ESEM）モードでも動作し、従来のSEMではイメージングできないサンプルのイメージングや解析が可能です。ESEMモードで動作する場合、PHILIPS XL 30はクリーンで安定した真空環境を維持すると同時に、気体の大気下でサンプルを維持することができます。これにより、液体や細胞培養中の標本のような微妙な生物学的サンプルのイメージングが可能になります。最後に、PHILIPS/FEI XL30には、画像解析やインタラクティブ3D視覚化のために設計された自動画像解析パッケージであるTelEDなど、さまざまな高性能解析ソフトウェアが搭載されています。このソフトウェアは、面積、境界、ラインプロファイル、体積などの機能、および統合エネルギー分散分光（EDS）機能を測定することができます。結論として、FEI XL30は、幅広い材料や構造のイメージングと分析のために設計された走査型電子顕微鏡です。汎用性の高い設計、FEGソース、および検出器および分析ソフトウェアの範囲により、PHILIPS/FEI XL 30は、幅広いSEMおよびESEMアプリケーションに理想的なツールとなります。