中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293636316 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、ナノスケールでのイメージングおよび解析に使用される走査型電子顕微鏡（SEM）です。材料や生体試料の表面地形を高解像度で分析するために使用されます。これは、200 x 350 mmのスキャン領域と高速イメージング用の高速スキャン検出器を備えた自動ステージを備えています。スキャン速度は最大500Hzで、最大解像度は1nm/pixelです。また、50 Pa未満を必要とするイメージングサンプル用の低真空モードを備えています。FEI XL 30には、多くの高度なイメージング機能があります。電子ビーム誘導電流検出器を搭載し、材料の電気特性を測定します。また、エネルギー分散型X線解析（EDX）システムを備えており、試料表面の元素解析を可能にします。さらに、サンプル特性評価用の明るいフィールド検出器と暗いフィールド検出器の両方が含まれています。イメージング機能に加えて、PHILIPS XL30は多くの高度な分析機能を提供しています。サンプル層の厚さを測定するために使用できるバックスキャッタ検出器を備えています。要素解析と構造解析を組み合わせることで、サンプル表面を完全に把握することができます。また、材料の応力とひずみを測定することができる高度なオン軸電子ホログラフィーを備えています。さらに、XL 30には充電中和装置があり、試料の充電による画像の歪みを防ぎます。これにより、充電しやすいサンプルでも正確なイメージングと分析が可能になります。また、低温での高解像度イメージングのための統合された低温ステージ、および詳細な化学分析のための分光検出器を備えています。全体として、PHILIPS/FEI XL30は、高度なイメージングおよび分析機能を備えた強力な走査型電子顕微鏡です。材料や生体試料の特性評価に最適で、比類のない洞察と理解を研究者に提供します。