中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293619811 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、サブミクロンレベルでのイメージングおよび解析用に設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。エネルギー分散型X線分析装置（EDS）システムと、収差補正機能を備えた電界放射銃を備えています。FEI XL 30は、2次電子イメージングと2次散乱イメージング（BSE）、または低電圧イメージングの3つのモードを提供します。PHILIPS XL30は、分解能0。750nm、圧力窓0.35-420PA、チャンバーサイズ0。5x。6mmで最大500,000xに達することができます。検出器システムはバイモーダル検出器、二次電子検出器、エネルギー分散X線検出器で構成されています。バイモーダル検出器には、湾曲した非反射検出器、同期パルス検出器、およびオープンフロースポット検出器が含まれています。二次電子検出器は、放出された電子を測定し、より細かいチューニング可能な経路分解能を可能にする環状スリットを備えています。EDX検出器は元素分析を可能にし、アンチスカッターグリッドとアルミニウムX線窓を備えています。FEI XL30は、低真空および高真空でサンプルを分析することができます。試料の導入には試料室を使用し、環境条件を制御して試料への水分や汚染物質の影響を低減します。加熱ステージを使用して、サンプルを最大3000°Cに加熱することができます。PHILIPS/FEI XL30のユーザーインターフェイスは、すべての顕微鏡の設定を制御し、すべての設定のデフォルト値を格納するようにプログラムすることができます。ユーザーは、各イメージングモードの完全なプロファイルを保存および取得できます。ユーザーにまた視野角、拡大およびビーム形を制御するための多数の選択があります。XL30は、電子マイクログラフィー、特性評価、表面トポグラフィー、元素分析および分光法、故障解析、トンネリングなど、さまざまな分析の可能性を提供します。収差補正（CAC）とkV低減技術により、その性能はさらに向上しています。高い安定性と低ノイズフロアにより、正確な測定が可能です。また、精度と一貫性により、結果を再現することができます。