中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293618038 を販売中
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PHILIPS/FEI XL 30は、研究者や科学者が顕微鏡レベルで情報やデータを収集できるように設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、高解像度の画像を生成するだけでなく、オブジェクト表面の拡張研究を可能にするために、さまざまな機能や機能を利用しています。このユニットは、電子源、スキャニングコントローラ、電磁レンズ、試料準備室、デジタルイメージング装置、真空システムなど、さまざまなコンポーネントで構成されています。電子源は電子ビームを生成し、スキャン制御装置によって制御される磁気レンズによって様々な方法で操作されます。低電圧スキャン電子顕微鏡は、ナノメートル以下の解像度で試料表面を詳細に画像化することができます。放出された電子を正確な表面検査のために位置決めするために、統合されたマイクロマニピュレーターを使用することができます。真空システムは、真空がシステムの正しい動作のために不可欠であるため、機械の内部環境を維持します。標本の準備のために、顕微鏡は標本の部屋に統合される暖房および冷却段階を提供します。これにより、さまざまな温度や圧力を含むサンプルの柔軟な研究が可能になります。デジタルイメージングデバイスは、顕微鏡とマクロの両方のレベルの画像をキャプチャすることができます。FEI XL 30は、金属、セラミックス、プラスチック、生物標本など、さまざまな材料や表面に適しています。単位は小型、軽量、多目的で、作動し易いです。研究者や科学者は、表面トポロジーに関する詳細な情報を収集しながら、小さなサンプルを正確かつ確実に分析することができます。
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