中古 PHILIPS / FEI XL 30 #293610605 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。これは、様々なサンプルの研究に使用することができ、最大160,000xの倍率範囲を持っています。FEI XL 30には3つの電子検出器が搭載されており、組成、地形、元素分布などのさまざまな標本データを分析することができます。統合されたデジタルRGBの顕微鏡のカメラはサンプルのオールデジタルイメージングそして観察を可能にし、ソフトウェアスイートは分析機能の強力な範囲を含んでいます。汎用性の高いPHILIPS XL30は、5つの主要コンポーネントで構成されています。電子銃は、試料に微細な電子ビームを送る加熱フィラメントで構成されており、これは電磁レンズシステムによって指示されます。標本はサンプルホルダーに取り付けられ、顕微鏡の部品の他の部分から電気的に隔離されます。電子検出器は、ビームからのデータを収集し、ディスプレイに表示します。XL30は、実施されている分析の種類に応じて、低エネルギーモードまたは高エネルギーモードのいずれかで動作できます。低エネルギーモードでは、このユニットは、表面構造と組成、ならびに元素分布の高分解能イメージングを提供します。高エネルギーモードでは、機械は表面の地形およびバルク材料特性の情報を得るのに使用することができます。SEMツールには試料チェンジャーが装備されており、サンプルローディングとスキャンプロセスの自動化を可能にし、ユーザーが分析に必要なソフトウェア設定をすばやく作成してアクセスできる最新のユーザーインターフェイスを備えています。XL 30はまた、包括的なイメージングと分析機能を備えており、ユーザーに包括的な機能を提供します。統合されたImageJソフトウェアは、明るいフィールドと暗いフィールドの両方のモードで高度なイメージングを可能にします。さらに、FEI XL30には、EDS（エネルギー分散X線分光法）、WDS（波長分散X線分光法）、SEMトモグラフィ、自動化されたデジタル画像解析などの標本データを分析するための強力な分析ツールがあります。全体として、PHILIPS XL 30は高度で高性能なSEM資産であり、幅広いイメージングツールと分析機能を研究者に提供します。非常にユーザーフレンドリーで、幅広い種類のサンプルタイプを視覚化および分析するための完全なソリューションを提供しています。