中古 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #9108125 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30 Sirionは、材料科学、産業品質管理、ライフサイエンス分野の最新の表面イメージングおよび分析を提供する走査型電子顕微鏡（SEM）です。この汎用性の高いSEMは、高解像度と高スループットを特徴とする革新的な技術と、信頼性の高い使いやすい設計を組み合わせています。独自の設計により、被写界深度の拡張が可能であり、自動化されたステージにより、中断することなく広い領域を取得することができます。FEI XL 30 Sirionは、最大0。9 nmの横解像度と最大70 nmの画像解像度で、これまでにない明瞭さとディテールの画像を生成します。バックスキャッターイメージング、次世代EDSシステム（化学分析用）、低真空イメージング、コントラストやテクスチャ解析のための高角環状ダークフィールド（HAADF）など、さまざまなイメージングモードを備えています。また、プロセスのワンタイムイメージング用のデジタルビデオ機能も備えています。PHILIPS XL 30 Sirionは、独自の自動加速制御システム（AAC）を備えており、最適で再現性のある加速性能を保証します。これにより、収集されたデータが一貫していることが保証されます。その高度なSEおよびBSE検出器は、低ノイズレベルで高感度の5〜200 keVから収集できます。XL 30 Sirionには自動化されたステージがあり、中断することなくより大きなエリアの取得を可能にします。最大200mm×200mmの3次元での移動が可能で、拡張領域連続イメージングにも対角移動が可能です。完全に自動化された画像登録技術は、複数の視野で取得した画像を正確に整列させ、サンプルまたは表面領域の概要を提供します。PHILIPS/FEI XL 30 Sirionは非常に汎用性が高く信頼性の高いSEMで、これまでにない明瞭さ、詳細、結果の一貫性をユーザーに提供します。その革新的な機能と広範なフィールドイメージングにより、材料科学、産業品質管理、ライフサイエンス分野のアプリケーションに最適です。