中古 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293644232 を販売中

ID: 293644232
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM).
PHILIPS/FEI XL 30 Sirionは、さまざまな研究および診断アプリケーションに使用される高性能スキャン電子顕微鏡(SEM)です。それは速く、正確な結果を達成する高度な機能が装備されています。FEI XL 30 Sirionには、二次電子、逆散乱電子、反射電子など、さまざまな検出機能があります。また、解像度を向上させるための30kVの高いベース電圧と、データを素早く取得するための高コヒーレンス電子源を備えています。背面散乱検出器は、表面地形と元素分析の両方を得ることができます。PHILIPS XL 30 Sirionの軸移動は1200mmで、サブミクロンの再現性があり、チャンバー内の正確な標本配置が可能です。また、作動距離5。5mmの高倍率レンズを搭載し、多種多様なサンプルサイズや形状を実現しています。幅広い種類の試料を取り揃えております。XL 30 Sirionは直感的なユーザーインターフェイスで簡単に操作でき、迅速なアライメントと試験片の受け入れを可能にする自動化された機能を備えています。4次元断層撮影、デュアルビームイメージング、EDSなど、貴重なデータを可視化するためのさまざまなイメージングツールを提供しています。PHILIPS/FEI XL 30 Sirionは、迅速な操作、正確な結果、高度なイメージング機能を必要とするアプリケーションに最適です。その信頼できる性能および有効な操作はそれにさまざまな研究および診断適用のための理想的な選択をします。
まだレビューはありません