中古 PHILIPS / FEI XL 30 Sirion #293614803 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 293614803
FEG Scanning Electron Microscope (FEG SEM)
EDAX
ETD and BSE Detector
Chiller
Magnification: Up to 800,000x with 2 nm
Resolution:
5 nm at 10 kV or higher
5 nm at 1 kV
Electron source:
SCHOTTKY Thermionic field emission electron gun
Gun configuration control
Beam acceleration voltage range: 0.2-30 kV
Beam current range: 1 pA - 25 nA
Specimen stage:
Eucentric goniometer: 4-Axis (X, Y, Z and R)
Motorized stage with full manual override
Tilt range: -15° to 60°
Specimen chamber diameter: 284 mm
Vacuum:
Automatic vacuum interlock
Diffusion pump (Lower chamber)
(2) Ion getter pumps (Gun chamber)
Gun chamber: 2x10^-7 Pa
Specimen chamber: 2x10^-5 Pa
Vacuum regained: <5 minutes
Scanning system:
Survey mode
Scan mode
Scan rotation
Magnification rage: 20x - 800,000x
Analytical capability:
Secondary Electron (SE) detector
Back Scattered Electron (BSE) detector
Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDS)
Manuals included
Voltage range: 1.0 kV - 30.0 kV.
PHILIPS/FEI XL 30 Sirionは強力な走査型電子顕微鏡（SEM）で、科学者や研究者に高解像度のイメージングと分析を提供することができます。シリオンは最大1。2nmの空間分解能を有しており、最高の微細構造特性でも検出可能な高画質画像と材料分析を可能にします。シリオンには、光学性能と加速電圧を向上させた新しい電子光学機器が装備されています。これにより、ナノスケール材料のイメージングや解析、マイクロサーキットの検査ツールなど、さまざまな用途で使用できます。シリオンには、波長分散X線検出器を備えたエネルギー分散X線分光法（EDX）システムも含まれています。このユニットは、サンプルの元素分析を可能にし、正確で完全な組成物を実行するために使用することができます。シリオンは、背景散乱電子イメージング（BSE）、二次電子イメージング（SEI）、プランビューイメージングおよびプロービング、および低真空イメージングなど、さまざまなイメージングおよび分析技術に使用できます。Sirionは、歪みのない画像や自動データ取得のためのビームシフト画像補正機（BSICS）などの高度な画像処理技術もサポートしています。Sirionはまた、高精度のサンプルステージや真空フィードスルーなど、一連のサンプル操作機能を備えています。これにより、真空中でもサンプルの整列と操作が可能になり、空気中でのサンプル調製が不要になります。Sirionはまた、真空を壊すことなくサンプル間の容易な切り替えを可能にする標本交換用具を含んでいます。全体として、FEI XL 30 Sirionは、優れた画像解像度、元素解析機能、および自動データ取得を提供する高度なスキャン電子顕微鏡アセットです。これは、科学的および産業用アプリケーションに最適なツールであり、さまざまなイメージング機能とユーザーフレンドリーな機能を提供します。
まだレビューはありません