中古 PHILIPS / FEI XL 30 SFEG #9390243 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30 SFEGは、様々な標本を撮影することができる高度な走査型電子顕微鏡（SEM）です。低電圧、高圧、可変圧力スキャンモードを利用して、これまでにないディテールで幅広いサンプルを視覚化できます。FEI XL 30S FEGは、元素分析用にオックスフォードAZtecエネルギー分散分光法（EDS）を標準装備し、現代の材料科学者にとって最先端の顕微鏡です。PHILIPS XL30 S-FEGは、低真空場放出電子銃（FEG）をベースにしており、可変圧力スキャン機能と2-30kVからの効果的な加速電圧範囲を追加しました。最大1。25nmの空間分解能を持ち、最小の充電アーティファクトで画像の短いパルス持続時間を誇ります。FEG電子源はまた、電子の流入を可能にし、バックスキャッターイメージング、二次電子イメージング、同時分光イメージングなど、さまざまなイメージングモードを実現するために調整することができます。さらに、PHILIPS XL 30S FEGには、SEM、 STEM、 BICなどの複数の顕微鏡装置を統合して総合的な研究ができるZWN Automationが搭載されています。FEI XL 30 S-FEGのオックスフォードAZtec EDS分光計は、元素分析に最適です。高速で自動化されたマッピング機能により、MAPS解析は0。1mまで実現可能です。ホウ素（B）からウラン（U）までの元素範囲を持ち、高精度な定量データを提供することができます。XL30 S-FEGは、アプリケーション固有の検出器を備えた大型タッチスクリーンインターフェース上の自動機能を備えています。これらの検出器は、ビーム電流、信号デジタル化、および画像キャプチャを管理し、高コントラスト、低ノイズ画像につながる画像パラメータの操作を可能にします。さらに、コントラスト、ぼかし、研磨、着色を強化するために、多くの後処理フィルタを使用できます。全体として、PHILIPS/FEI XL30 S-FEGは、高度で高性能なSEMを必要とする方に最適です。その幅広いイメージング機能、強化されたイメージングパラメータ、および元素分析機能により、研究および産業用途において卓越した選択肢となります。