中古 PHILIPS / FEI XL 30 FEG #9184962 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30 FEGは、試料表面の高解像度画像を生成するために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。これは、電子の集束ビームを使用してサンプルの画像を生成し、強力な分析機能を提供します。FEI XL 30 FEGは、電子ビームを生成するために電界放射銃（FEG）を使用します。FEGは、SEMで使用される最先端の電子源であり、非常に高い倍率と優れた解像度を可能にします。ビームはラスターパターンでサンプル上にスキャンされ、サンプルから逆散乱または放出された電子を検出して画像が形成されます。PHILIPS XL 30 FEGは、最大500mm x 700mmの大型試料を保持するチャンバー、低真空用のデュアルLN/Arガン、超高真空（UHV）チャンバー、自動サンプル転送システムなど、パフォーマンスを向上させるさまざまな機能を備えています。また、コラム内のエネルギーフィルターを備えており、ユーザーはビームのエネルギーを選択して、必要なコントラストのレベルを達成することができます。XL 30 FEGには、4種類のSE（二次電子）検出器、2種類のBS（逆散乱電子）検出器、およびエネルギー分散X線分光計（EDS）を含む幅広い検出器も含まれています。この検出システムは、元素分析や組成などの幅広い分析機能を提供します。PHILIPS/FEI XL 30 FEGは、WindowsベースのGUIを使用して制御されます。これにより、画像解像度、真空レベル、真空サイクルのタイミングなどのパラメータを調整できます。また、オートフォーカスなどの自動化されたオートメーション機能も備えており、操作をより簡単にすることができます。FEI XL 30 FEGは、高度な分析アプリケーションのニーズを満たすように設計された強力なSEMです。優れた解像度、自動化された自動化機能、広範な分析機能を備え、さまざまな材料を研究するための信頼性の高い汎用性の高いツールです。