中古 PHILIPS / FEI XL 30 (ESEM) #293824979 を販売中

PHILIPS/FEI XL 30は、高度な研究用途に最適な独自の高性能スキャン電子顕微鏡（SEM）です。このSEMは、幅広い材料の詳細で高解像度の3D画像を生成します。この顕微鏡は、高精度なイメージング機能に加えて、さまざまな機能と機能を備えているため、科学者や研究者にとって最先端の選択肢となっています。FEI XL 30は電子源として電界放射銃を備えている。この銃には、電子ビームをより正確に調整するための特別に設計された電子カラムと、優れた空間およびエネルギー分解能が装備されています。これにより、ナノメートルサイズの粒子や構造、サブセルの特徴など、表面の特徴をより正確かつ詳細に可視化することができます。一方、この二軸収差補正器は、より鮮明で正確な表面機能と、より優れた被写界深度を備えたイメージングを大幅に改善します。この顕微鏡は、デジタル信号プロセッサ、プログラム可能な電圧供給装置、および超高解像度の画像を実現するためにCentris EDX（エネルギー分散X線検出器）を使用しています。独自のEDX検出器により、化学元素解析も可能です。この上に顕微鏡の傾斜ステージがあり、標本を30度まで傾けることができます。これにより、従来のイメージングでは見えない表面を明らかにできる斜めの角度が作成されます。PHILIPSの強力なイメージング機能XL30、材料研究、半導体研究、ナノテクノロジーなど、幅広い研究課題に最適です。最先端の機能と最高のパフォーマンスにより、ユーザーは細部と精度の高い材料を観察し、分析することができます。優れたイメージング機能を備えたPHILIPS/FEI XL30は、高度な研究に従事するあらゆるラボに必須です。