中古 PHILIPS / FEI Versa 3D #293670274 を販売中
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ID: 293670274
ヴィンテージ: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Detectors: ETD, ICE, STEM
Electron column
Schottky NG FEG SEM
KV Range: 350 V-30 keV
E-Beam deceleration
E-Beam fast blanker
Nanomanipulator with rotation
Plasma cleaner
Cryo-cold trap
IR Camera
Navigation camera
Low vacuum and high vacuum modes
HT ION Column: 65 nA
Stage: Hot / Cold
Scios holder
Gas injection system: Pt, Carbon, IEE
Microscope control:
Auto slice
Auto TEM
No eazy lift exchange
No OXFORD EDS Detector
No OXFORD EBSD Detector
No cold trap
Operating system: Windows 7
2010 vintage.
PHILIPS/FEI Versa 3Dは、高度で高性能な走査型電子顕微鏡(SEM)で、幅広い科学および産業用途に高度なイメージング機能と分析機能を提供します。この最先端の機器は、電子顕微鏡技術の有名なリーダーであるThermo Fisher Scientificによって設計および製造されています。FEI Versa 3Dの中心には、高輝度と安定性を提供する電界放出電子源があり、優れた信号対ノイズ比で高解像度のイメージングを可能にします。顕微鏡の電子光学系は、最大ビーム電流とスポットサイズの制御に最適化されており、幅広い倍率で優れたイメージング性能を実現します。PHILIPS Versa 3Dは、X、 Y、 Z変換、傾斜機能を含む複数の寸法でサンプル操作を可能にする汎用性の高いステージを備えています。この高度なステージデザインにより、正確なサンプルの位置決めと、イメージングおよび分析タスクのナビゲーションが容易になります。さらに、自動化されたビームアライメント、フォーカス、スティグメーションなどの高度なオートメーション機能を備えており、操作を合理化し、ワークフロー効率を向上させます。Versa 3Dの主な強みの1つは、3Dイメージング機能であり、ユーザーは詳細な地形情報を取得し、3次元で構造を視覚化することができます。これは、ステレオイメージング、トモグラフィー、スライスアンドビュー技術などの高度なイメージングモードによって実現され、比類のない明瞭さと深さを持つ標本の形態と内部構造に関する洞察を提供します。高解像度イメージングに加えて、PHILIPS/FEI Versa 3Dは、さまざまな分析機能を提供し、材料の特性評価と研究のための汎用性の高いツールとなっています。この顕微鏡には、元素分析とマッピングのためのエネルギー分散型X線分光法(EDS)検出器と、結晶構造解析のための電子後方散乱回折(EBSD)が搭載されています。これらの分析手法により、サンプル内の化学組成、結晶構造、位相分布を高精度で識別することができます。さらに、FEI Versa 3Dには、データ取得、処理、分析のための高度なソフトウェアが搭載されており、ユーザーは、画像処理および分析実験から有意義な洞察と定量的な結果を生成することができます。直感的なユーザーインターフェイスとカスタマイズ可能なワークフローにより、研究者は顕微鏡の設定を特定のニーズに合わせて調整し、研究目的のデータ取得を最適化できます。全体として、PHILIPS Versa 3Dスキャン電子顕微鏡は、高解像度イメージング、3D可視化、および幅広い材料およびサンプルの分析特性評価のための最先端のプラットフォームです。Versa 3Dは、高度なイメージング機能、汎用性の高いステージデザイン、統合された分析機能を備え、材料科学、ナノテクノロジー、ライフサイエンス、半導体産業などの分野で活躍する研究者、科学者、エンジニアにとって強力なツールです。
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