中古 PHILIPS / FEI V600CE #293809777 を販売中
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ID: 293809777
ヴィンテージ: 2010
Focused Ion Beam (FIB) system
Integrated Optical Microscope (IR OM)
NanoChemix configured gases:
XeF2
H2O
O2
Cl2
W
TMCTS
(2) Gas Injection Systems (GIS):
Probe Trim (PT)
Backside circuit
2010 vintage.
PHILIPS/FEI V600CEは、ナノメートルレベルの解像度を得ることができる高分解能走査型電子顕微鏡（SEM）です。電子を利用した高度なイメージング機能を備え、材料の詳細な検査が可能です。FEI V600CE走査型電子顕微鏡は、インコラム検出器、高分解能ショットキー電界放射銃、および強力な低ノイズ、超高速信号アンプを備えた高分解能イメージングを実現します。ショットキーフィールドエミッションガンは、高電圧電子に短い滞留時間を提供し、電子ビームの拡散を最小限に抑えて高速でイメージングすることができます。カラム内検出器は、サンプルとの電子ビーム相互作用からの信号を自動的に検出、増幅、デジタル化し、画面上の画像を提供します。PHILIPS V600CEは、ナノレベルの元素解析を可能にするエネルギー分散X線分光法を開発しました。光子計測システムは、非破壊的なX線解析を可能にし、元素や材料の識別に役立ちます。V600CEには自動サンプルチェンジャーがあり、継続的に使用することができます。高解像度マイクログラフ、高倍率イメージング、3D地形画像取得、サイト分解組成、マイクロテクスチャイメージングが可能です。PHILIPS/FEI V600CEは、ナノメートルまたはサブナノメートルのレベル分解能を必要とする研究者に最適です。そのイメージング機能は、ネイティブ状態およびナノレベルのさまざまな材料を調べるのに役立ちます。また、高度なエネルギー分散X線分光法は金属表面に存在する元素の特性評価に最適であるため、冶金分析にも有用なツールです。
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