中古 PHILIPS / FEI V600 #293763996 を販売中

PHILIPS/FEI V600 Scanning Electron Microscope （SEM）は、材料分析用の汎用性と強力なワークホース装置です。このツールは、最新の光学系、改良されたチャンバー設計、および高度なスキャンエレクトロニクスにより、1ナノメートルまでの機能を高効率で解決することができます。超高解像度イメージング、統合された3Dイメージング、自動画像取得と処理、データ解釈と分析のための包括的なソフトウェアを備えています。FEI V600はオープンアーキテクチャ設計を採用しており、幅広い検出器と補助システムをメインオプティクスおよびスキャンシステムと統合することができます。これらには、エネルギー分散型X線検出器（EDX）、全場検出器、イメージベースのアライメント技術を備えた自動µビームリソグラフィーツール、化学組成と深度プロファイリングのためのEscaLam充電パーティクルアナライザ、およびレンズ内X線単位の可変圧力が含まれます。PHILIPS V 600には、試料ステージの動きを極めて正確に制御できる高解像度のピエゾ電気検出器（PDS）と、複数の角度で同時に画像を取得できるデュアルビーム入射角度ツールが搭載されています。このアセットは、サンプル材料の表面地形に関する貴重な情報を提供します。さらに、マルチコラム加速電圧（MCAV）モデルを使用すると、イメージングアプリケーションに最適な加速電圧を選択できます。PHILIPS V600には、作業室で超高真空条件を作るために使用される引き込み式の環境電界放出電子銃（FEG）があります。複数のガス制御システムなどの追加の環境アクセサリのおかげで、PHILIPS/FEI V 600は他のSEMシステムよりも低圧および高圧で動作することができます。これは、絶縁試験や非導電試料などのさまざまな種類の試験片を分析する場合に有益です。全体として、FEI V 600スキャン電子顕微鏡は、高品質のイメージングと卓越した精度の両方を提供することができる、材料分析のための高度で機能豊富な装置です。ユーザーフレンドリーなオープンアーキテクチャ設計により、さまざまな検出器やアクセサリと容易に統合でき、幅広い用途に対応できる汎用性と柔軟性を備えています。