中古 PHILIPS / FEI V400 ACE #293808790 を販売中

PHILIPS / FEI V400 ACE
ID: 293808790
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI V400 ACEは走査型電子顕微鏡(SEM)で、研究から産業研究まで幅広い応用が可能です。使いやすいデザインで、これまでにない解像度、ディテール、高コントラストで画像を取得することができます。FEI V400 ACEは、高輝度電子ビームを生成し、LaB6から0.4Vまでの広範囲のプローブエネルギーと30Vまでのプローブ電流を可能にする、ユニークな六塩化ランタン(3µA)単結晶コールドカソード電子源を含みます。PHILIPS V400ACEは、電子後方散乱回折(EBSD)とカソドルミネッセンス(CL)で同時に動作する2つのフィーチャーディテクタを使用して、直径18cmまでのサンプルの視野を拡大しています。内蔵のEDSDetectorは、化学分析用の高感度エネルギー分散分光計(EDS)を提供します。FEI V400ACEにはマルチチルトおよびマルチツイスト機能が搭載されており、3次元でサンプルの向きを決定し、サンプル微細構造に関する洞察を提供することができます。PHILIPS V400 ACEは、インレンズと逆散乱検出器を備え、全解像度で優れたコントラストと元素の蛍光マッピングを特徴とする画像を提供することができます。FocusViewソフトウェアでキャプチャされた自動非破壊解析技術などの高度なハードウェアおよびソフトウェア機能は、自動ドリフト補正を含む自動取得のための統合プラットフォームを提供します。SmartXAソフトウェアを使用すると、最も複雑なサンプルでも自動的に取得できます。ハイコントラスト、高解像度画像の収集を可能にする自動最適化技術。独自の4セグメントサンプルステージにより、大規模な分析中にSEMサンプルエリア全体を自動的かつ正確にナビゲーションできます。エッジ(ウルトラ)リコネクトゴーグルは、微細な微細構造を文書化するための最大限のサンプル分析を提供します。インテリジェント4K HEPAフィルタは、動作中に電子光学部品を保護し、高解像度のイメージングを保証します。全体として、V400ACEは非常に汎用性の高い走査型電子顕微鏡で、優れた電子光学と制御スキャン技術を提供しています。これは、最高の信頼性と汎用性を兼ね備えた最高の画像解像度と化学分析性能をお探しのユーザーに最適です。
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